参数资料
| 型号： | CAT9555YI-T2 |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 12/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC I/O EXPANDER I2C 16B 24TSSOP |
| 标准包装： | 1 |
| 接口： | I²C，串行，SMBus |
| 输入/输出数： | 16 |
| 中断输出： | 是 |
| 频率 - 时钟： | 400kHz |
| 电源电压： | 2.3 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 24-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 24-TSSOP |
| 包装： | 标准包装 |
| 包括： | POR |
| 产品目录页面： | 807 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | CAT9555YI-T2DKR |
CAT9555
http://onsemi.com
5
Table 5. A.C. CHARACTERISTICS (VCC = 2.3 V to 5.5 V, TA = 40°C to +85°C, unless otherwise specified) (Note 6)
Symbol
Parameter
Standard I2C
Fast I2C
Units
Min
Max
Min
Max
FSCL
Clock Frequency
100
400
kHz
tHD:STA
START Condition Hold Time
4
0.6
ms
tLOW
Low Period of SCL Clock
4.7
1.3
ms
tHIGH
High Period of SCL Clock
4
0.6
ms
tSU:STA
START Condition Setup Time
4.7
0.6
ms
tHD:DAT
Data In Hold Time
0
ms
tSU:DAT
Data In Setup Time
250
100
ns
SDA and SCL Rise Time
1000
300
ns
SDA and SCL Fall Time
300
ns
tSU:STO
STOP Condition Setup Time
4
0.6
ms
Bus Free Time Between STOP and START
4.7
1.3
ms
tAA
SCL Low to Data Out Valid
3.5
0.9
ms
tDH
Data Out Hold Time
100
50
ns
Noise Pulse Filtered at SCL and SDA Inputs
100
ns
PORT TIMING
tPV
Output Data Valid
200
ns
tPS
Input Data Setup Time
100
ns
tPH
Input Data Hold Time
1
ms
INTERRUPT TIMING
tIV
Interrupt Valid
4
ms
tIR
Interrupt Reset
4
ms
6. Test conditions according to “AC Test Conditions” table.
7. This parameter is characterized initially and after a design or process change that affects the parameter. Not 100% tested.
Table 6. A.C. TEST CONDITIONS
Input Rise and Fall time
≤ 10 ns
CMOS Input Voltages
0.2 VCC to 0.8 VCC
CMOS Input Reference Voltages
0.3 VCC to 0.7 VCC
Output Reference Voltages
0.5 VCC
Output Load: SDA, INT
Current Source: IOL = 3 mA; CL = 100 pF
Output Load: I/Os
Current Source: IOL/IOH = 10 mA; CL = 50 pF
Figure 3. I2C Serial Interface Timing
SCL
SDA IN
SDA OUT
tAA
tSU:STA
tHD:STA
tHD:DAT
tF
tLOW
tHIGH
tLOW
tR
tSU:DAT
tDH
tBUF
tSU:STO
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