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参数资料
| 型号： | IDT7009L20PF |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 7/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 1MBIT 20NS 100TQFP |
| 标准包装： | 6 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，异步 |
| 存储容量： | 1M (128K x 8) |
| 速度： | 20ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 7009L20PF |
IDT7009L
High-Speed 128K x 8 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
AC Electrical Characteristics Over the
Operating Temperature and Supply Voltage Range
7009L15
Com'l Only
7009L20
Com'l & Ind
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
READ CYCLE
t RC
t AA
Read Cycle Time
Address Access Time
15
____
____
15
20
____
____
20
ns
ns
t ACE
Chip Enable Access Time
(4)
____
15
____
20
ns
t AOE
t OH
t LZ
Output Enable Access Time
Output Hold from Address Change
Output Low-Z Time (1,2)
____
3
3
10
____
____
____
3
3
12
____
____
ns
ns
ns
t HZ
Output High-Z Time
(1,2)
____
10
____
10
ns
t PU
Chip Enable to Power Up Time
(2)
0
____
0
____
ns
t PD
Chip Disable to Power Down Time
(2)
____
15
____
20
ns
t SOP
t SAA
Semaphore Flag Update Pulse ( OE or SEM )
Semaphore Address Access Time
10
____
____
15
10
____
____
20
ns
ns
4839 tbl 12
AC Electrical Characteristics Over the
Operating Temperature and Supply Voltage
7009L15
Com'l Only
7009L20
Com'l & Ind
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
WRITE CYCLE
t WC
Write Cycle Time
15
____
20
____
ns
t EW
Chip Enable to End-of-Write
(3)
12
____
15
____
ns
t AW
t AS
t WP
t WR
t DW
Address Valid to End-of-Write
Address Set-up Time (3)
Write Pulse Width
Write Recovery Time
Data Valid to End-of-Write
12
0
12
0
10
____
____
____
____
____
15
0
15
0
15
____
____
____
____
____
ns
ns
ns
ns
ns
t HZ
Output High-Z Time
(1,2)
____
10
____
10
ns
t DH
Data Hold Time
(4)
0
____
0
____
ns
Write Enable to Output in High-Z
t WZ
(1,2)
____
10
____
10
ns
t OW
t SWRD
t SPS
Output Active from End-of-Write
SEM Flag Write to Read Time
SEM Flag Contention Window
(1,2,4)
0
5
5
____
____
____
0
5
5
____
____
____
ns
ns
ns
NOTES:
4839 tbl 13
1. Transition is measured 0mV from Low or High-impedance voltage with Output Test Load (Figure 2).
2. This parameter is guaranted by device characterization, but is not production tested.
3. To access RAM, CE = V IL and SEM = V IH . To access semaphore, CE = V IH and SEM = V IL . Either condition must be valid for the entire t EW time.
4. The specification for t DH must be met by the device supplying write data to the RAM under all operating conditions. Although t DH and t OW values will vary over voltage
and temperature, the actual t DH will always be smaller than the actual t OW .
7
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