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参数资料
| 型号： | 1215E |
| 英文描述： | TEST/JTAG SUPPORT|CMOS|QFP|48PIN|PLASTIC |
| 中文描述： | 测试/ JTAG支持|的CMOS | QFP封装| 48PIN |塑料 |
| 文件页数： | 88/92页 |
| 文件大小： | 1041K |
| 代理商： | 1215E |
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Agere Systems Inc.
89
User Manual
April 2001
497AE and 1215E Boundary-Scan Master 2
Advanced Operational Mode
B-S chain map, incorrect 43
BSM, original 41
BSM_MD* 67
bugs, known
RDY signal disabled during random logic BIST 22
bus conflict 16
byte transfer 36
C
CBIST 9, 22, 23, 50, 51, 58
CDIV 40
CE_B 36
CFGR register of old BSM 42
clock
divider 9, 21
gating 7, 9, 12, 38
master 9
skew 14
cluster test 15, 16
command
execute 7
D
data
rapid download of 11
rapid upload of 11
type 1 16
type 2 16, 17
type 3 16
data bus 7
16-bit, 1215E 35, 79
1-bit, 497AE 35
8-bit, 497AE 7, 35, 36, 67
width 35
data transfer
examples (497AE) 36
incomplete (497AE) 36
multibyte 36
DAV* 7, 67
default values of BSM2 registers 35
deskewing circuitry 14
destination state 9, 11, 15
DET 15, 39
deterministic scan operation 18
device controller 7
device reset 35
devices
non-B-S 15
DMA controller 8, 41, 44
DONE 23, 25, 27, 47
E
EXEC 11, 25, 27
F
fault model
extended 22
stuck-at 22
filler data 16, 17
G
GCLK 12, 38
GND/VSS 68, 79
ground 7
H
halting TCK signal 12, 38
hypertext 5
I
I/O overhead, avoiding 11
IDL0 47
idle state 9, 11, 38, 57
reading from 35
writing to 35
instruction
BYPASS 21
EXTEST 18, 21
internal logic test (for devices on UUT) 15
data over/underflow 41
when done 41
interrupt servicing software 9
L
latches, deskewing 14
logic failure 58
low power 21
LP 39
M
manual debugging 14
MEMDONE 50, 51
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PDF描述 |
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